"Estimativa da incerteza de medição" e "Validação de métodos analíticos" são alguns dos assuntos que serão discutidos de 30 de maio a 1º de junho, em São Paulo
"Estimativa da incerteza de medição" e "Validação de métodos analíticos" são alguns dos assuntos que serão discutidos de 30 de maio a 1º de junho, em São Paulo
O congresso terá cerca de 70 palestras de especialistas da metrologia e a exposição contará com a participação de empresas de equipamentos para laboratórios, laboratórios de calibração e ensaios, centros e institutos de pesquisa, universidades e órgãos certificadores.
Entre os temas que serão discutidos estão "Confiabilidade metrológica", "Estimativa da incerteza de medição", "Validação de métodos analíticos" e "Análise de sistemas de medição".
A realização é da Rede Metrológica do Estado de São Paulo (Remesp), com co-promoção da Sociedade Brasileira de Metrologia (SBM) e do Instituto de Metrologia, Normalização e Qualidade Industrial (Inmetro).
Mais informações: www.remesp.org.br ou (11) 5582-5718 / 6395.
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