Grafite: imagem em alta resolução (imagem: IF/USP)

IF/USP oferece curso de Microscopia de Força Atômica e Tunelamento
12 de junho de 2015

O curso tem 12 vagas e é gratuito. Os interessados devem ter formação na área de Ciências Exatas ou Biomédicas

IF/USP oferece curso de Microscopia de Força Atômica e Tunelamento

O curso tem 12 vagas e é gratuito. Os interessados devem ter formação na área de Ciências Exatas ou Biomédicas

12 de junho de 2015

Grafite: imagem em alta resolução (imagem: IF/USP)

 

Agência FAPESP – O Laboratório de Filmes Finos do Instituto de Física da Universidade de São Paulo (IF/USP) inicia, em agosto, o curso de Microscopia de Força Atômica e Tunelamento, com duração de quatro meses e aulas às terças e quartas-feiras, das 10h às 12h.

Com 12 vagas, o curso é gratuito. Os interessados devem ter formação nas áreas de Ciências Exatas ou Biomédicas e matricular-se como aluno especial entre os dias 13 e 17 de julho na Secretaria de Pós-Graduação do IF (Rua do Matão, 187, Travessa R, Edifício Principal, Ala 2), entre 11h e 11h30 e 14h e 15h.

A microscopia de força atômica (AFM) não envolve lentes e permite diferentes modos de operação para obtenção de imagens. Na AFM de contato, por exemplo, uma sonda interage com a superfície, realizando uma varredura, como um scanner, e gerando ponto a ponto as coordenadas x, y e z. Por meio de um software, a técnica possibilita a reconstrução de uma superfície em 3D, podendo chegar à resolução atômica. A AFM é utilizada para caracterizar morfologicamente materiais, com precisão em escala micro, nano ou subnano.

O curso é voltado para estudantes de diversas áreas, como engenharia, física, química, biologia, além de profissionais que atuam nas áreas de biologia – com caracterização de células, por exemplo –, química, engenharia, entre outras. Nas seis primeiras semanas do curso serão ministradas aulas expositivas e experimentais em laboratório. Quando os participantes já estiverem familiarizados com a AFM, terá início a fase de discussão de projetos que serão desenvolvidos durante as quatro horas de curso.

Ao final do curso, os participantes estarão aptos a interpretar corretamente imagens obtidas em diversos modos de operação; a avaliar a adequação das técnicas para caracterização de amostras e a fazer uso das técnicas. Mais informações: fap01.if.usp.br/~lff/curso.html ou pelo tel. 11 3091-6901
 

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